ELECTRON-SPIN-RESONANCE STUDIES OF ELECTRON-TRANSPORT ACROSS THE METAL-SILICON INTERFACE

被引:1
|
作者
VIER, DC
SCHULTZ, S
WU, MG
MAPLE, MB
机构
来源
关键词
D O I
10.1116/1.583831
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:985 / 986
页数:2
相关论文
共 50 条