SMALL-ANGLE TECHNIQUES FOR THE ASYMPTOTIC ANALYSIS OF X-RAY-DIFFRACTION PEAKS

被引：12
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作者：
CICCARIELLO, S [1 ]
机构：
[1] DIPARTIMENTO FIS G GALILEI,VIA MARZOLO 8,I-35131 PADUA,ITALY
来源：
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A | 1990年 / 46卷
关键词：
D O I：
10.1107/S0108767389010676
中图分类号：
O6 [化学];
学科分类号：
0703 ;
摘要：
[No abstract available]
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页数：12
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