DETERMINATION OF THICKNESS OF CDS THIN-FILMS USING A QUASI-EXPONENTIAL DECAY OF REFRACTIVE-INDEX WITH WAVELENGTH

被引：0
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作者：
CHATTERJEE, AK
DEY, KK
机构：
来源：
NATIONAL ACADEMY SCIENCE LETTERS-INDIA | 1985年 / 8卷 / 03期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O [数理科学和化学]; P [天文学、地球科学]; Q [生物科学]; N [自然科学总论];
学科分类号：
07 ; 0710 ; 09 ;
摘要：
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页数：4
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