ISTFA'97 brings testing, failure analysis of microelectronics to Silicon Valley

被引:0
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作者
Khandekar, C [1 ]
机构
[1] Level One Commun Inc, Reliabil Assurance & Failure Anal, Sacramento, CA 95827 USA
来源
ADVANCED MATERIALS & PROCESSES | 1997年 / 152卷 / 02期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
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