一种IGBT热阻测试方法的研究

被引:6
作者
张亚玲
李志刚
姚芳
黄欢
机构
[1] 河北工业大学电气工程学院
关键词
绝缘栅双极晶体管; 热阻; 硅凝胶灌封技术;
D O I
10.14081/j.cnki.hgdxb.2016.01.001
中图分类号
TN322.8 [];
学科分类号
0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;
摘要
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)工作时会产生大量的热,这不仅会影响到其工作的可靠性,还会对其周围的电路产生影响,降低整个系统的性能.因此对其进行准确的温升和热阻测量具有重要意义.论文阐述了利用直接测量结温法测量IGBT热阻的原理,介绍了热阻测试系统的硬件构成及测试流程,并测试了模块在不同功率下的热阻值,对测量结果进行分析,发现该热阻测试系统具有测量简单、对不同运行条件适应性强、测量结果重复性好等优点,可作为测量IGBT温升及热阻的一种方法.
引用
收藏
页码:1 / 4
页数:4
相关论文
共 9 条
[1]   一种IGBT热阻测试系统的研制 [J].
陈君 ;
张小玲 ;
谢雪松 ;
田蕴杰 ;
袁芳 ;
杨友才 .
半导体技术, 2015, 40 (01) :68-72
[2]   功率VDMOS稳态热阻测试的关键影响因素 [J].
董晨曦 ;
王立新 .
电子器件, 2013, 36 (02) :143-148
[3]   IGBT结温模拟和探测方法比对研究 [J].
陈明 ;
胡安 .
电机与控制学报, 2011, 15 (12) :44-49+55
[4]   一种IGBT热阻的测量方法 [J].
黄月强 ;
吕长志 ;
谢雪松 ;
张小玲 .
电力电子技术, 2010, 44 (09) :104-105+108
[5]   IGBT的发展现状及应用 [J].
李恩玲,周如培 .
半导体杂志, 1998, (03) :48-51
[6]   用红外扫描法测量功率晶体管热阻 [J].
黄雒光 ;
崔恩录 ;
秦仲波 ;
田建军 ;
郭贺军 .
半导体技术, 1998, (02) :43-44
[7]  
Thermal characteristics analysis of an IGBT using a fiber Bragg grating[J] . Optics and Lasers in Engineering . 2011 (2)
[8]   A new approach to the dynamic thermal modelling of semiconductor packages [J].
Masana, FN .
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2001, 41 (06) :901-912
[9]  
Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications[J] . A. Hamidi,G. Coquery,R. Lallemand,P. Vales,J.M. Dorkel.Microelectronics Reliability . 1998 (6)