用红外扫描法测量功率晶体管热阻

被引：6

作者：

黄雒光

崔恩录

秦仲波

田建军

郭贺军

机构：

[1] 电子工业部第十三研究所

来源：

关键词：

热阻,热斑,热时间常数;

D O I：

10.13290/j.cnki.bdtjs.1998.02.011

中图分类号：

TN323.4 [];

学科分类号：

0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;

摘要：

器件的热阻不是恒量。功率晶体管的结温不是空间均匀的；对于不同的工作点，有不同的热阻值；而热阻随结温的变化率的测定，对于保证功率晶体管安全工作，预测可靠程度是很重要的，红外扫描法可满足其要求。

引用

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