Extended fine structure in elastically scattered electron spectra. Nature and application to structure analysis

被引:0
|
作者
Bondarchuk, A.B. [1 ]
Goysa, S.N. [1 ]
Koval, I.F. [1 ]
Mel'nik, P.V. [1 ]
Nakhodkin, N.G. [1 ]
机构
[1] Kiev State Univ, Kiev, Russia
来源
Surface Science | 1991年 / 258卷 / 1-3期
关键词
Semiconductor Materials;
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
引用
收藏
页码:239 / 246
相关论文
共 50 条