Defect depth determination by thermal-wave imaging

被引:0
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作者
Favro, L.D. [1 ]
机构
[1] Department of Physics, Institute for Manufacturing Research, Wayne State University, Detroit, MI 48202, United States
来源
Progress in Natural Science | 1996年 / 6卷 / SPEC. ISS.期
关键词
D O I
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2
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