RELIABILITY OF SEMICONDUCTOR DEVICES FOR THE CS-3 COMMUNICATIONS SATELLITE.

被引：0
|
作者：
Wada, Yoshinori [1 ]
Ueki, Takemi [1 ]
Shiono, Noboru [1 ]
机构：
[1] NTT, Jpn, NTT, Jpn
来源：
Reports of the Electrical Communication Laboratory | 1988年 / 36卷 / 01期
关键词：
D O I：
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页码：129 / 133
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