Conduction-related voltage instabilities in double-layer dielectric films

被引:0
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作者
Evseev, S. [1 ]
Cacciato, A. [1 ]
Van Der Pol, J. [1 ]
机构
[1] Philips Semiconductors, PMO, Gerstweg 2, 6534AE Nijmegen, Netherlands
来源
| 1600年 / American Institute of Physics Inc.卷 / 91期
关键词
D O I
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