EFFECTS OF ION-IMPLANTATION AND PULSED ELECTRON-BEAM ANNEAL ON GE FILMS GROWN EPITAXIALLY ON (100) GAAS

被引:0
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作者
TSENG, W [1 ]
DIETRICH, H [1 ]
DAVEY, J [1 ]
CHRISTOU, A [1 ]
ANDERSON, W [1 ]
机构
[1] USN,RES LAB,WASHINGTON,DC 20375
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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