MEASUREMENT OF N-TYPE GERMANIUM MICROWAVE CONDUCTIVITY DRUING IMPACT IONIZATION OF IMPURITIES AT 4.2 DEGREES K

被引:2
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作者
PALMIER, JF
机构
关键词
D O I
10.1103/PhysRevLett.25.864
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:864 / &
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