ELECTRON-MICROSCOPY OF TAS2 SINGLE-CRYSTALS USING WEAK BEAM TECHNIQUE

被引：0
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作者：
AGARWAL, MK
PATEL, JV
PATEL, TC
机构：
来源：
INDIAN JOURNAL OF PURE & APPLIED PHYSICS | 1980年 / 18卷 / 11期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
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页码：899 / 902
页数：4
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