LOW VOLTAGE ELECTRON DIFFRACTION STUDY OF OXIDATION AND REDUCTION OF SILICON

被引：266

作者：

LANDER, JJ

MORRISON, J

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1728901

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：2089 / &

共 7 条

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