SCANNING ELECTRON-MICROSCOPIC STUDIES OF ETCHED TRACK PROFILES

被引：0
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作者：
KHAN, HA
SPOHR, R
机构：
[1] UNIV MARBURG,FACHBEREICH KERNCHEM 14,D-3550 MARBURG,FED REP GER
[2] GESELL SCHWERIONENFORSCH MBH,D-6100 DARMSTADT 11,FED REP GER
来源：
NUCLEAR TRACKS AND RADIATION MEASUREMENTS | 1981年 / 5卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1016/0191-278X(81)90308-5
中图分类号：
TL [原子能技术]; O571 [原子核物理学];
学科分类号：
0827 ; 082701 ;
摘要：
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