DLTS STUDIES OF OXYGEN-CLUSTER DOPED AND PHOSPHORUS-DOPED SILICON IRRADIATED WITH 1.5 MEV ELECTRONS

被引:0
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作者
JELLISON, GE [1 ]
CLELAND, JW [1 ]
机构
[1] OAK RIDGE NATL LAB,OAK RIDGE,TN 37830
来源
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
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页数:2
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