TESTS OF QED IN 2-ELECTRON IONS .1. METHODOLOGY AND 23P FINE-STRUCTURE

被引:28
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作者
HATA, J
GRANT, IP
机构
关键词
D O I
10.1088/0022-3700/16/4/006
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
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页数:15
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