ELECTRONIC-STRUCTURE OF SIO2, SIXGE1-XO2, AND GEO2 FROM PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY

被引:105
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作者
FISCHER, B [1 ]
POLLAK, RA [1 ]
DISTEFANO, TH [1 ]
GROBMAN, WD [1 ]
机构
[1] IBM CORP, THOMAS J WATSON RES CTR, YORKTOWN HTS, NY 10598 USA
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.15.3193
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:3193 / 3199
页数:7
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