METHODS OF DETERMINING OPTICAL-CONSTANTS OF THIN SEMICONDUCTOR-FILMS USING NORMAL INCIDENCE REFLECTANCE AND TRANSMITTANCE DATA

被引：0
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作者：
MCKENZIE, DR
MCPHEDRAN, RC
SAVVIDES, N
BOTTEN, LC
MARTIN, PJ
NETTERFIELD, RP
机构：
[1] NEW S WALES INST TECHNOL,SCH MATH SCI,BROADWAY,NSW 2000,AUSTRALIA
[2] CSIRO,NATL MEASUREMENT LAB,DIV APPL PHYS,LINDFIELD,NSW 2070,AUSTRALIA
[3] UNIV SYDNEY,SCH PHYS,SYDNEY,NSW 2006,AUSTRALIA
来源：
PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS | 1983年 / 369卷
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ; 0803 ;
摘要：
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