SCANNING TUNNELING MICROSCOPY, AN ATOMIC PROBE

被引：0
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作者：
BINNIG, G
ROHRER, H
机构：
来源：
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY | 1983年
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
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页码：1079 / 1082
页数：4
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