REDUNDANCY RELATIONS AND ROBUST FAILURE-DETECTION

被引：0
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作者：
CHOW, EY
LOU, XC
VERGHESE, GC
WILLSKY, AS
机构：
[1] MIT,DEPT ELECT ENGN & COMP SCI,CAMBRIDGE,MA 02139
[2] MIT,INFORMAT & DECIS SYST LAB,CAMBRIDGE,MA 02139
[3] MIT,ELECT POWER SYST ENGN LAB,CAMBRIDGE,MA 02139
来源：
LECTURE NOTES IN CONTROL AND INFORMATION SCIENCES | 1986年 / 77卷
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TP [自动化技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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页数：19
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