WHAT DETERMINES THE PROBING DEPTH OF ELECTRON YIELD XAS (VOL 324, PG L371, 1995)

被引:5
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作者
SCHROEDER, SLM
MOGGRIDGE, GD
ORMEROD, RM
RAYMENT, T
LAMBERT, RM
机构
[1] UNIV CAMBRIDGE, DEPT CHEM, CAMBRIDGE CB2 1EW, ENGLAND
[2] UNIV KEELE, DEPT CHEM, KEELE ST5 5BG, STAFFS, ENGLAND
关键词
D O I
10.1016/0039-6028(95)00394-0
中图分类号
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
070304 ; 081704 ;
摘要
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