Erratum to 'what determines the probing depth of electron yield XAS?' [surface science 324 (1995) L371]

被引：0
|
作者：
Schroeder, S.L.M.
Moggridge, G.D.
Ormerod, R.M.
Rayment, T.
Lambert, R.M.
机构：
来源：
Surface Science | 1995年 / 329卷 / 1-2期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
相关论文
共 2 条
  • [1] WHAT DETERMINES THE PROBING DEPTH OF ELECTRON YIELD XAS (VOL 324, PG L371, 1995)
    SCHROEDER, SLM
    MOGGRIDGE, GD
    ORMEROD, RM
    RAYMENT, T
    LAMBERT, RM
    SURFACE SCIENCE, 1995, 329 (1-2) : L612 - L612
  • [2] WHAT DETERMINES THE PROBING DEPTH OF ELECTRON YIELD XAS
    SCHROEDER, SLM
    MOGGRIDGE, GD
    ORMEROD, RM
    RAYMENT, T
    LAMBERT, RM
    SURFACE SCIENCE, 1995, 324 (2-3) : L371 - L377
1