ELIMINATION AND GENERATION OF SI-SIO2 INTERFACE TRAPS BY LOW-TEMPERATURE HYDROGEN ANNEALING

被引:118
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作者
THANH, LD [1 ]
BALK, P [1 ]
机构
[1] AACHEN TECH UNIV,INST SEMICOND ELECTR,D-5100 AACHEN,FED REP GER
关键词
D O I
10.1149/1.2096133
中图分类号
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
081704 ;
摘要
引用
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页码:1797 / 1801
页数:5
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