THE DEVELOPMENT OF SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY (SIMS) - A RETROSPECTIVE

被引：27
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作者：
HONIG, RE
机构：
来源：
INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1985年 / 66卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1016/0168-1176(85)83018-4
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];
学科分类号：
070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;
摘要：
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页数：24
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