Trade show demonstrations and US patent infringement

被引：0
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作者：
Barry, Kathleen B. [1 ]
Poullaos, Ivan M. [1 ]
机构：
[1] Winston & Strawn LLP, Chicago, IL 60601 USA
来源：
JOURNAL OF INTELLECTUAL PROPERTY LAW & PRACTICE | 2009年 / 4卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1093/jiplp/jpn255
中图分类号：
D9 [法律]; DF [法律];
学科分类号：
0301 ;
摘要：
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页码：153 / 154
页数：3
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