Preface of special issue on VLSI design and test

被引：0
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作者：
Yang, Laurence T.
Delgado-Frias, Jose G.
Li, Yiming
Niamat, Mohammed
Soudris, Dimitrios
Vemuru, Srinivasa R.
机构：
[1] Washington State Univ, Washington, DC USA
[2] Univ Toledo, Toledo, OH 43606 USA
来源：
MICROELECTRONIC ENGINEERING | 2007年 / 84卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1016/j.mee.2006.12.005
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页数：1
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