A distribution-free test for ordered alternatives

被引：0
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作者：
Nelson, LS
机构：
来源：
JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY | 2000年 / 32卷 / 04期
关键词：
critical values; failure data; life testing; nonparametric tests; normal approximation; sequential analysis;
D O I：
暂无
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页数：4
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