EMC: Where power and test converge

被引:0
|
作者
Keeton, G [1 ]
机构
[1] Elgar Elect, San Diego, CA 92121 USA
来源
EE-EVALUATION ENGINEERING | 2003年 / 42卷 / 04期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
To be competitive in today's test industry, it's time to consider Ways that combine divergent compliance testing needs and still simulate real-world conditions.
引用
收藏
页码:26 / +
页数:4
相关论文
共 50 条