Hardware Realization of the System for Automated Current-Voltage Characteristics Measurement for Semiconductor Devices

被引：0
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作者：
Zaitsev, R. V. [1 ]
Kirichenko, M. V. [1 ]
Momotenko, O. V. [1 ]
Polezhaeva, O. V. [1 ]
Prokopenko, D. S. [1 ]
机构：
[1] NTU KhPI, Mat Elect & Solar Cells Dept, Kharkov, Ukraine
来源：
2015 INTERNATIONAL YOUNG SCIENTISTS FORUM ON APPLIED PHYSICS (YSF) | 2015年
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
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页数：3
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