X射线光电子能谱的应用介绍

被引：18

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作者：

文美兰

机构：

[1] 东南大学物理系

来源：

化工时刊 | 2006年 / 08期

关键词：

XPS; 化学态; 化学位移;

D O I：

10.16597/j.cnki.issn.1002-154x.2006.08.018

中图分类号：

O657.62 [能谱分析];

学科分类号：

摘要：

X射线光电子能谱(XPS)是较常用的表面分析技术之一,不仅能测定材料表面的组成元素,而且还能给出各元素的化学状态信息,在很多领域都有广泛用途。本文主要通过一些具体例子介绍X射线光电子能谱在表面元素的定性和定量分析方面的应用。

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共 2 条

[1] X射线光电子能谱在材料研究中的应用
卢炯平
[J]. 分析测试技术与仪器, 1995, (01) : 1 - 12
[2] The use of parallel imaging ESCA to analyse features smaller than 5 microns[J] . N. M. Forsyth,P. Coxon.Fresenius’ Journal of Analytical Chemistry . 1993 (1)