INTERVIEWING FOR KNOWLEDGE.

被引:0
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作者
Waldron, Vincent R. [1 ]
机构
[1] Texas Instruments Inc, TX, USA, Texas Instruments Inc, TX, USA
来源
| 1600年 / PC-29期
关键词
D O I
10.1109/tpc.1986.6449030
中图分类号
学科分类号
摘要
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