共 50 条
INTERVIEWING FOR KNOWLEDGE.
被引:0
|作者:
Waldron, Vincent R.
[1
]
机构:
[1] Texas Instruments Inc, TX, USA, Texas Instruments Inc, TX, USA
来源:
|
1600年
/
PC-29期
关键词:
D O I:
10.1109/tpc.1986.6449030
中图分类号:
学科分类号:
摘要:
引用
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