X-RAY EMISSION ANALYSIS FOR THICKNESSES MEASUREMENT.

被引：0
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作者：
Brunner, Gerhard [1 ]
机构：
[1] Acad of Sciences of the GDR, East Ger, Acad of Sciences of the GDR, East Ger
来源：
Wireworld international | 1986年 / 28卷 / 3-4期
关键词：
COATING THICKNESS - INNER IONIZATION - METALLIC SURFACES - X-RAY SPECTROMETRY;
D O I：
暂无
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摘要：
(Edited Abstract)
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