Effect of deep dislocation levels in silicon on the properties of p-n junctions

被引:0
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作者
Zakharov, A.G. [1 ]
Dudko, V.G. [1 ]
Nabokov, G.M. [1 ]
Sechenov, D.A. [1 ]
机构
[1] V.D. Kalmykov Radio Engineering Inst, Russia
来源
| 1600年 / 31期
关键词
D O I
暂无
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摘要
(Edited Abstract)
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