Automation of set-ups for the measurement of refractive index profile and attenuation in planar waveguides

被引:0
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作者
Institute of Physics, Technical University of Silesia, ul. Boleslawa Krzywoustego 2, 44-100 Gliwice, Poland [1 ]
机构
来源
Opt Appl | / 1卷 / 87-93期
关键词
D O I
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