CHARACTERIZATION OF TEGFET's AND MESFET's USING THE ELECTROOPTIC SAMPLING TECHNIQUE.

被引:0
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作者
Meyer, K.E. [1 ]
Dykaar, D.R. [1 ]
Mourou, G.A. [1 ]
机构
[1] Univ of Rochester, Rochester, NY,, USA, Univ of Rochester, Rochester, NY, USA
关键词
D O I
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摘要
3
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