Analysis of variable angle spectroscopic ellipsometric measurements on uncoated magneto-optic materials

被引:0
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作者
McGahan, William A. [1 ]
Shan, Z.S. [1 ]
Woollam, John A. [1 ]
机构
[1] Univ of Nebraska, United States
来源
Applied physics communications | 1988年 / 8卷 / 04期
关键词
Dielectric Function Tensor - Ellipsometric Measurements - Kerr Ellipticity - Kerr Rotation - Polar Kerr Effect - Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry;
D O I
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