The Gaseous Electronic Conference (GEC) reference cell as a benchmark for understanding microelectronics processing plasmas

被引:0
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作者
Dept. Nucl. Eng. Radiological Sci., University of Michigan, Ann Arbor, MI 48109-2104, United States [1 ]
不详 [2 ]
不详 [3 ]
机构
来源
Phys Plasmas | / 5 I卷 / 2307-2313期
关键词
D O I
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19
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