Chemical oxidation of hydrogen-terminated silicon (111) surfaces in water studied in situ with Fourier transform infrared spectroscopy

被引:0
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作者
Boonekamp, E.P.
Kelly, J.J.
van de Ven, J.
Sondag, A.H.M.
机构
来源
| 1600年 / American Inst of Physics, Woodbury, NY, USA卷 / 75期
关键词
D O I
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