Test method of adjacent channel leakage ratio for TD-LTE terminal

被引：0

作者：

Wang, Nina ^{[1
]}

Zhang, Zhi ^{[1
,2
]}

Jiang, Jun ^{[1
,2
]}

Tang, Tian ^{[1
,2
]}

Sun, Yanliang ^{[1
]}

机构：

[1] School of Information and Communication Engineering, Beijing University of Posts and Telecommunications, Beijing 100876, China

[2] Beijing Starpoint Communications Software Co. Ltd., Beijing 100102, China

来源：

Yi Qi Yi Biao Xue Bao/Chinese Journal of Scientific Instrument | 2011年 / 32卷 / 10期

关键词：

Compendex;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Long Term Evolution (LTE)

引用

页码：2357 / 2362