WEAK-BEAM CONTRAST OF STACKING-FAULTS IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY

被引:42
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作者
FOLL, H
CARTER, CB
WILKENS, M
机构
[1] CORNELL UNIV,ITHACA,NY 14850
[2] MAX PLANCK INST MET RES,INST PHYS,D-7000 STUTTGART 1,FED REP GER
来源
关键词
D O I
10.1002/pssa.2210580210
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页数:15
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