LOW TEMPERATURE SPECIMEN METHOD FOR ELECTRON DIFFRACTION AND ELECTRON MICROSCOPY

被引：57

作者：

HONJO, G

KITAMURA, N

SHIMAOKA, K

MIHAMA, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1143/JPSJ.11.527

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：527 / 536

页数：10

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共 17 条

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