EFFECTS OF DEFECT TRAPPING AND SOLUTE SEGREGATION ON DEFECT RECOMBINATION RATES AND VOID SWELLING IN IRRADIATED ALLOYS

被引:11
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作者
OKAMOTO, PR
LAM, NQ
WIEDERSICH, H
JOHNSON, RA
机构
关键词
D O I
10.1016/0022-3115(78)90352-5
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页数:4
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