VARIATION OF BRAGG-CASE DIFFRACTION CURVES OF X-RAYS FROM A THIN SILICON CRYSTAL WITH CRYSTAL THICKNESS

被引:11
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作者
HASHIZUM.H
NAKAYAMA, K
MATSUSHI.T
KOHRA, K
机构
关键词
D O I
10.1143/JPSJ.29.806
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:806 / &
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