MULTIPLE ANGLE ELLIPSOMETRIC ANALYSIS OF SURFACE-LAYERS AND SURFACE-LAYER CONTAMINANTS

被引:19
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作者
PEDINOFF, ME [1 ]
STAFSUDD, OM [1 ]
机构
[1] UNIV CALIF LOS ANGELES,DEPT ELECT ENGN,LOS ANGELES,CA 90024
来源
APPLIED OPTICS | 1982年 / 21卷 / 03期
关键词
D O I
10.1364/AO.21.000518
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
引用
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页码:518 / 521
页数:4
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