ELECTRON-MICROSCOPE OBSERVATIONS OF TRACKS OF 130 MEV CL-9+ IONS IN SOLIDS

被引:0
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作者
FURUNO, S
OTSU, H
IZUI, K
机构
来源
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1981年 / 30卷 / 04期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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页码:327 / 330
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