ROTATING SAMPLE TECHNIQUE FOR MEASUREMENT OF RANDOM BACKSCATTERING YIELDS FROM CRYSTALS AND ITS APPLICATION TO BETA-ALUMINA

被引：13

作者：

BLOOD, P ^{[1
]}

FELDMAN, LC ^{[1
]}

MILLER, GL ^{[1
]}

REMEIKA, JP ^{[1
]}

机构：

[1] BELL TEL LABS INC, MURRAY HILL, NJ 07974 USA

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1978年 / 149卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(78)90864-9

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：225 / 228

页数：4

共 8 条

DERNIER, PD ;

REMEIKA, JP .

[2]

FELDMAN LC, 1976, ION BEAM SURFACE LAY, V2, P735

[3]

MCWHAN DB, UNPUBLISHED

[4] SECONDARY-ELECTRON EMISSION [J].

SIMON, RE ;

WILLIAMS, BF .

WILLIAMS, JS .

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS, 1975, 126 (02) :205-215

ZIEGLER, JF ;

CROWDER, BL .

[7] CORRECTION [J].

ZIEGLER, JP .

[8]

[No title captured]