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1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .6. ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY
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GROBMAN, WD
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h-index:
0
GROBMAN, WD
LUHN, HE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
LUHN, HE
DONOHUE, TP
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
DONOHUE, TP
SPETH, AJ
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SPETH, AJ
WILSON, A
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
WILSON, A
HATZAKIS, M
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HATZAKIS, M
CHANG, THP
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CHANG, THP
机构
:
来源
:
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS
|
1979年
/ 14卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1109/JSSC.1979.1051175
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
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:
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1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .6. ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY
GROBMAN, WD
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0
h-index:
0
GROBMAN, WD
LUHN, HE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
LUHN, HE
DONOHUE, TP
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
DONOHUE, TP
SPETH, AJ
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SPETH, AJ
WILSON, A
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
WILSON, A
HATZAKIS, M
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HATZAKIS, M
CHANG, THP
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CHANG, THP
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1979,
26
(04)
: 360
-
368
[2]
1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .5. SINGLE-LEVEL POLYSILICON TECHNOLOGY USING ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY
HUNTER, WR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HUNTER, WR
EPHRATH, L
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
EPHRATH, L
GROBMAN, WD
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
GROBMAN, WD
OSBURN, CM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
OSBURN, CM
CROWDER, BL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CROWDER, BL
CRAMER, A
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CRAMER, A
LUHN, HE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
LUHN, HE
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1979,
26
(04)
: 353
-
359
[3]
1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .5. SINGLE-LEVEL POLYSILICON TECHNOLOGY USING ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY
HUNTER, WR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HUNTER, WR
EPHRATH, L
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
EPHRATH, L
GROBMAN, WD
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
GROBMAN, WD
OSBURN, CM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
OSBURN, CM
CROWDER, BL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CROWDER, BL
CRAMER, A
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CRAMER, A
LUHN, HE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
LUHN, HE
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
1979,
14
(02)
: 275
-
281
[4]
1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .1. OVERVIEW
YU, HN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
YU, HN
REISMAN, A
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
REISMAN, A
OSBURN, CM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
OSBURN, CM
CRITCHLOW, DL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CRITCHLOW, DL
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
1979,
14
(02)
: 240
-
246
[5]
1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .1. OVERVIEW
YU, HN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
YU, HN
REISMAN, A
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
REISMAN, A
OSBURN, CM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
OSBURN, CM
CRITCHLOW, DL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CRITCHLOW, DL
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1979,
26
(04)
: 318
-
324
[6]
INTEGRATED ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY FOR 0.25 MU-M DEVICE FABRICATION
BUCCHIGNANO, J
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BUCCHIGNANO, J
ROSENFIELD, M
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
ROSENFIELD, M
PEPPER, G
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
PEPPER, G
DAVARI, B
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
DAVARI, B
HOLM, F
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HOLM, F
VISWANATHAN, R
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
VISWANATHAN, R
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B,
1989,
7
(06):
: 1827
-
1831
[7]
1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .8. RADIATION EFFECTS
AITKEN, JM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
AITKEN, JM
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
1979,
14
(02)
: 294
-
301
[8]
1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .8. RADIATION EFFECTS
AITKEN, JM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
AITKEN, JM
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1979,
26
(04)
: 372
-
379
[9]
1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .4. HOT-ELECTRON DESIGN CONSTRAINTS
NING, TH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
NING, TH
COOK, PW
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
COOK, PW
DENNARD, RH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
DENNARD, RH
OSBURN, CM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
OSBURN, CM
SCHUSTER, SE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SCHUSTER, SE
YU, HN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
YU, HN
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
1979,
14
(02)
: 268
-
275
[10]
1 MU-M MOSFET VLSI TECHNOLOGY .4. HOT-ELECTRON DESIGN CONSTRAINTS
NING, TH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
NING, TH
COOK, PW
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
COOK, PW
DENNARD, RH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
DENNARD, RH
OSBURN, CM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
OSBURN, CM
SCHUSTER, SE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SCHUSTER, SE
YU, HN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
YU, HN
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1979,
26
(04)
: 346
-
353
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