DOUBLE CRYSTAL SYNCHROTRON X-RAY-DIFFRACTION STUDY OF STOICHIOMETRY IN GALLIUM-ARSENIDE

被引：0
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作者：
COCKERTON, S
GREEN, GS
TANNER, BK
机构：
来源：
CHARACTERIZATION OF THE STRUCTURE AND CHEMISTRY OF DEFECTS IN MATERIALS | 1989年 / 138卷
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页数：6
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