EVIDENCE OF SURFACE ORIGIN OF 1/F NOISE

被引：133

作者：

SAH, CT

HIELSCHER, F

机构：

来源：

PHYSICAL REVIEW LETTERS | 1966年 / 17卷 / 18期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevLett.17.956

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：956 / +

页数：1

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[1] CHARACTERISTICS OF METAL-OXIDE-SEMICONDUCTOR TRANSISTORS [J].

SAH, CT .

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 1964, ED11 (07) :324-+

[2]

TERMAN LM, 1962, J SOLID STATE ELECTR, V5, P285

[3]

VANDERZIEL A, 1959, FLUCTUATION PHENOMEN, pCH5

[4]

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